Surtronic S128泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過(guò)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類(lèi)型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測(cè)量?jī)x能夠?qū)Χ喾N標(biāo)準(zhǔn)裝置提供多種連接選擇。 A類(lèi)型USB A類(lèi)型USB接口能夠用于連接便攜式打印機(jī)（ESC/POS兼容），參見(jiàn)“配件“頁(yè)或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲(chǔ)存裝置，儲(chǔ)存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。

S116 Surtronic泰勒霍普森粗糙度儀 USB連接 通過(guò)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)A類(lèi)型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測(cè)量?jī)x能夠?qū)Χ喾N標(biāo)準(zhǔn)裝置提供多種連接選擇。 A類(lèi)型USB A類(lèi)型USB接口能夠用于連接便攜式打印機(jī)（ESC/POS兼容），參見(jiàn)“配件“頁(yè)或者標(biāo)準(zhǔn)USB儲(chǔ)存裝置，儲(chǔ)存結(jié)果、初始數(shù)據(jù)或者屏幕圖像。

UVCTest材料降解儀器使用亞太拉斯 UVCTest，研究暴露在以254nm為峰值的殺菌消毒UV-C輻射下，紡織品、塑料、油漆和產(chǎn)品的老化情況。

SEPAPMHE光老化分析儀Atlas SEPAP MHE光老化分析儀是為了加快高分子聚合物的加速光老化而設(shè)計(jì)，目的在于了解暴露在戶(hù)外的高分子聚合物的老化機(jī)理，并在分子水平上研究化學(xué)演化。

力科T3SP15D差分時(shí)域反射計(jì) T3SP10D（10 GHz）和T3SP15D（15 GHz）通過(guò)真正的差分信號(hào)激勵(lì)DUT，TDR提供50 ps（T3SP10D）和35 ps（T3SP15D）的快速上升時(shí)間，故障分辨率（FR4）分別為4.2 mm和3 mm，DUT長(zhǎng)度可達(dá)40 m，TDR采樣率最高可達(dá)10 MHz，并使用與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相同的OSL校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。 由于外形小巧，重量輕，可選內(nèi)部電池

聯(lián)訊rBT1250 10G突發(fā)誤碼分析儀 rBT1250 專(zhuān)門(mén)針對(duì) EPON、GPON 、XGPON及XGSPON應(yīng)用突發(fā)誤碼測(cè)試及分析。 rBT1250提供3個(gè)獨(dú)立通道數(shù)據(jù)碼型發(fā)生器和誤碼探測(cè)，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析。碼型時(shí)序靈活可調(diào)，并針對(duì)器件測(cè)試需求，給相應(yīng)測(cè)試通道提供同步的激光器使能、模塊復(fù)位信號(hào)等低速控制通道。而且rBT1250 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，可以自動(dòng)測(cè)距，對(duì)長(zhǎng)纖測(cè)試毫無(wú)問(wèn)題。從

聯(lián)訊PBT8812 53GBaud PAM4誤碼儀 聯(lián)訊儀器 pBT8812 高性能8x112Gb/s誤碼分析儀，可支持多至8組業(yè)務(wù)通道。 - 各通道可獨(dú)立配置為NRZ或PAM4信號(hào)制式。 - 速率最高可支持56 GBaud (112Gb/s@Pam4)。

聯(lián)訊PBT8856 PAM4誤碼儀28GBaud 多通道：1/2/4/8路PAM4碼型發(fā)生器及誤碼探測(cè)器通道； 速率（準(zhǔn)）連續(xù)可調(diào)：25/25.78125/26.56/27.89/28.125GBaud標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試速率； 輸出幅度可調(diào)