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      吉時利2601B-PULSE脈沖發生器

      簡要描述:吉時利2601B-PULSE脈沖發生器Keithley 2601B-PULSE 系統源表&#174; 10μs 脈沖發生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發生器和傳統SMU的全部功能在一個儀器上。行業10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數字化功能顯著提高測試能力,應用場景從臺式表征儀器到高度自動化生產測試。

      • 產品型號:2601B-PULSE
      • 廠商性質:代理商
      • 更新時間:2024-01-27
      • 訪  問  量:1739

      詳細介紹

      品牌其他品牌產地類別進口
      應用領域能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣

      吉時利2601B-PULSE脈沖發生器

      Keithley 2601B-PULSE 系統源表® 10μs 脈沖發生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發生器和傳統SMU的全部功能在一個儀器上。行業10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數字化功能顯著提高測試能力,應用場景從臺式表征儀器到高度自動化生產測試。

       

      實現高保真度脈沖,無需手動進行脈沖調諧

      2601B-PULSE控制環路系統能消除大到3μH感抗的手動調諧, 在10A內任意量程,脈沖從10μs到 500μs的輸出,確保您的脈沖沒有超調和振鈴。脈沖的上升時間< 1.7μs,保證你可以正確的進行器件表征或電路測試。

      • 輸出10A@10V,10 μs脈沖寬度
      • 脈沖的上升時間< 1.7μs
      • 高保真度的脈沖輸出,任何電流量程都不需要調整

      KI10A RiseTime

      2601B Pulse Pulser Plus SMU

      將快速脈沖發生器和SMU的功能整合在一臺儀器中

      2601B-PULSE增強了脈沖功能,提供*的測量完整性,您可以了解行業Keithley 2601B 源表的同步性,高速和準確性。

      • 脈沖發生器0.05%的基本測量精度與1Ms/s的數字化器
      • 源表100 nA微小電流量程與100 fA靈敏度
      • 后面板BNC端口支持快速電纜設置

      為不足的生產吞吐量提供嵌入式腳本和連接性

      測試腳本處理器(TSP®)技術在SMU儀器中嵌入并執行完整的測試程序,以提供業界性能。®TSP-Link技術支持多達32個TSP-Link節點的擴展,以創建高速的SMU-Per-Pin并行測試,而無需大型主機。

      • 消除了電腦連接的總線通信的延遲
      • *的數據處理和流程控制
      • 多連接32個TSP-Link節點
      • 隨著測試需求的變化,可以輕松地重新配置

      2601B PUlse Embedded Scripting

      吉時利2601B-PULSE脈沖發生器

       

      TOF/LIDAR應用激光二極管(VCSEL)的生產測試

      激光二極管的理想解決方案垂直腔表面發射激光器(VCSEL) LIV生產測試, 2601B-PULSE系統源表其高速度和高精度的10μs脈沖發生器為VCSELs,VCSEL組和激光雷達模塊提供電流脈沖源和電壓電流監測。源表提供了高性價比的LIV儀器與高系統同步和吞吐量。

      • 可編程脈沖電流源10A和10µs脈沖寬度
      • 電壓和電流的測量分辨率在100 nV和100 fA
      • 內置的TSP®處理能力減少電腦和儀器的總線通信
      • 簡化了LED的脈沖和直流的IV特性

        2601B-PULSE*的電流脈沖、直流電壓和電流能力使高速LED直流和脈沖IV表征和生產測試具有0.015%的基本測量精度。脈沖測試MicroLED、LED或高亮LED(HBLED)可大限度地減少自熱,減少對測量精度的負面影響,并消除對被測設備損壞的擔憂。

      • 可編程電流源10A和10µs脈沖寬度
      • 電壓和電流的測量分辨率在100 nV和100 fA
      • 1Ms/s,用于快速采集源和測量數據
      • 內置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
      • 晶圓半導體測試

        Keithley的2601B-PULSE和其他2600B系列系統源表儀器通過機架組合,可伸縮性和靈活性與基于大型機的系統的集成和高吞吐量相結合,使用TSP和TSP- link技術來減少制造封裝和測試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導體測試。

      • 內置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
      • TSP可多與32臺儀器保證在500 ns同步,與其他Keithley TSP儀器同步
      • 2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing

       

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