半導體動態參數測試系統

半導體動態參數測試系統硬件優勢:

1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數

2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC/GAN的 測試難點

3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

4.可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

6.器件驅動設計支持SIC/GAN器件

7.系統帶寬：>400MHz

8. 系統可以定制

半導體動態參數測試系統軟件特點：

1.測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復參數

2.支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

3.測試方式：單脈沖、多脈沖

4. 離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據離線分析

5.測試UI符合工程師的使用習慣

6.測量項目及器件支持擴展

系統參數：
●  測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
●  測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
●  短路電流：2000A
●  測量參數：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測量項目： 開關參數、短路參數、反向恢復參數、安全工作區等
●  測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：最小20ns，最大150us。
●  雙脈沖數：單脈沖、2-30脈沖
●  測量依據標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應用
?功率半導體的來料檢驗
?功率半導體的動態參數驗證
?實驗室的器件評估
?實驗室的驅動設計改善
?實驗室的PCB設計評估
?功率半導體的生產檢驗和篩選
測試項目