Chroma致茂 19501局部放電測試器設備

Chroma致茂 19501局部放電測試器設備產品特色

·交流高壓輸出&PD量測與主機分離式設計

·內建法規測試要求的測試方法

·三段電壓測試方法

·PD測量結果數值顯示(pC)

·PD不良發生次數判定設定(1~10)

·USB畫面擷取功能

·圖像化輔助編輯功能

·標準LAN、USB、RS232遠端控制接口

·繁中/簡中/英文操作接口

Chroma致茂 19501局部放電測試器設備可提供交流耐電壓測試(Hipot Test)量測待測物上的漏電(Leakage Current)與電氣閃絡(Flashover)，以及提供局部放電(Partial Discharge,PD)測試量測被測物上局部放電的電荷量(pC)對高壓元件與高耐壓的絕緣材料進行交流耐電壓與局部放電測試，可確保產品的絕緣品質與提升產品的可靠度。

19501的設計符合法規IEC60270-1對局部放電量測的要求。局部放電量的量測結果以直觀的電荷數(pC)將測試結果顯示在主機螢幕上。同時也參考了法規IEC60747與VDE0884的要求，將測試方法設計于儀器內，讓用戶可以更便利的進行操作與設定。

當絕緣體內存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時，在正常工作電壓下，氣泡或氣隙有較高的電場強度可能導致局部放電(PD)發生。當電源系統的應用元件(譬如:光耦合器、數位隔離器、IGBT、變壓器、馬達等)長時間發生持續性的局部放電，絕緣材料因長時間的劣化導致絕緣失效，進而造成人身安全的問題。因此，法規建議或要求對元件執行局部放電的檢測。例如:IEC60747-5-5要求光耦合器于生產過程中(Routine test)必須100%執行局部放電(PD)的檢測，在最大絕緣電壓的條件下不可以發生超過5pC的局部放電，確保產品在正常的工作電壓下不會發生局部放電(PD)。

局部放電 Partial Discharge

當絕緣體內存在氣泡(Void)或絕緣體間存在氣隙(Air gap)時，在正常工作電壓下氣泡或氣隙容易發生局部放電，導致絕緣劣化造成絕緣品質異常，為何局部放電容易發生在樹酯內的氣泡或漆包線間的氣隙因為空氣的介電系數較低，氣泡或氣隙的電容量比原絕緣材料低，所以會分到相對高比例的電壓，且在相同間隙距離條件下，氣泡或氣隙的崩潰電壓比絕緣材料的低。此類放電發生于氣泡或氣隙等局部瑕疵，但與其串列之絕緣材仍維持正常的放電現象稱之為局部放電。

當對被測物施加足夠的測試電壓時，利用局部放電偵測功能量測放電的電荷量(pC)，確認被測物的絕緣材料是否有絕緣品質異常的潛在風險。故施加一個略高于元件最高的額定工作電壓對元件局部放電測試，確保元件長時間在正常工作電壓下的可靠性(無持續性的局部放電)。

絕緣材料內存在氣泡

Ca:絕緣材料的等效電容(電極之間無氣泡的部分)

Cc:氣泡(Void)的等效電容

Cb:絕緣材料的等效電容(電極之間與氣泡串聯的部分)