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      • 費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀
        費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀

        費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備,嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國內外標準。通過模擬多種復雜工況(如熔斷計時、電流沖擊、耐久測試等),費思FTI5000系列保險絲測試儀能夠全面驗證保險絲的性能與可靠性。

        更新日期:2025-05-14型號:訪問量:182
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      • 費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀
        費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀

        費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備,嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-2015及IEC60296-6:2010等國內外標準。通過模擬多種復雜工況(如熔斷計時、電流沖擊、耐久測試等),費思FTI5000保險絲測試儀能夠全面驗證保險絲的性能與可靠性。

        更新日期:2025-05-14型號:訪問量:173
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      • 致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀
        致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀

        致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產品特色: ●測試參數:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q ●測試頻率:100kHz~300MHz ●量測范圍:100mΩ~5kΩ ●量測速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

        更新日期:2025-05-09型號:訪問量:255
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      • Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統
        Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統

        Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統產品簡介:帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置,能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。S530 可進行高達 200 V 的測試,而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試,與競爭解決方案相比,吞吐量提高了 50%。

        更新日期:2025-05-08型號:訪問量:230
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      • 吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀
        吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀

        吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

        更新日期:2025-05-08型號:訪問量:242
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      • 功率半導體參數測試系統
        功率半導體參數測試系統

        LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器,為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802半導體測試系統能實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。

        更新日期:2025-05-08型號:訪問量:223
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      • 半導體動態參數測試系統
        半導體動態參數測試系統

        半導體動態參數測試系統硬件優勢: 1. 采用先發布的12 bit 示波器:正確反映波形的細節,并準確計算出參數 2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統,解決SIC/GAN的 測試難點 3. 高帶寬的電壓和電流探測,彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

        更新日期:2025-05-08型號:訪問量:215
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      • 半導體靜態參數測試系統
        半導體靜態參數測試系統

        LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器,為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。

        更新日期:2025-05-08型號:訪問量:245
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