力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

LET-2000D力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

LET-2000D力鈦科（Letak）半導(dǎo)體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場合。特別對于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。

　　雙脈沖測試法可以測試IGBT模塊和驅(qū)動的性能，獲取IGBT穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過程中的主要參數(shù)，用以評估IGBT模塊和驅(qū)動的性能，并進(jìn)行電路參數(shù)的優(yōu)化。

具體包括測試IGBT的實際工況、開關(guān)損耗、關(guān)斷電壓尖峰、開關(guān)暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復(fù)電流、雜散電感影響、吸收電路影響、短路保護(hù)功能等，可以通過測試進(jìn)行優(yōu)化柵極電阻RGON和RGOFF參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關(guān)頻率設(shè)置等，并可以進(jìn)行IGBT模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實驗。

　　硬件優(yōu)勢:

　　-采用12 bit示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計算出參數(shù)

　　-采用光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC\GAN的測試難點

　　-高帶寬的電壓和電流探測，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求

　　-可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

　　-電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展

　　-器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件

　　-系統(tǒng)帶寬：>400MHz

　　-系統(tǒng)可以定制

軟件特點：

測量參數(shù)齊全：開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)

支持器件類型多：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…

測試方式：單脈沖、多脈沖

離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析

測試UI符合工程師的使用習(xí)慣

測量項目及器件支持?jǐn)U展