力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統

是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態參數的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，有著較高的系統帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數。

　　雙脈沖測試法可以測試IGBT模塊和驅動的性能，獲取IGBT穩態和暫態過程中的主要參數，用以評估IGBT模塊和驅動的性能，并進行電路參數的優化。

具體包括測試IGBT的實際工況、開關損耗、關斷電壓尖峰、開關暫態震蕩情況、二極管反向恢復電流、雜散電感影響、吸收電路影響、短路保護功能等，可以通過測試進行優化柵極電阻RGON和RGOFF參數、吸收電路參數、開關頻率設置等，并可以進行IGBT模塊的并聯和串聯實驗。

　　硬件優勢:

　　-采用12 bit示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數

　　-采用光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC\GAN的測試難點

　　-高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

　　-可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

　　-電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

　　-器件驅動設計支持SIC/GAN器件

　　-系統帶寬：>400MHz

　　-系統可以定制

軟件特點：

測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復參數

支持器件類型多：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…

測試方式：單脈沖、多脈沖

離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據離線分析

測試UI符合工程師的使用習慣

測量項目及器件支持擴展