JXA-iSP100電子探針顯微分析儀

JXA-iSP100電子探針顯微分析儀

電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域，作為研究開發(fā)的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ，地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng)，EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡(jiǎn)稱

JXA-iSP100電子探針顯微分析儀

1.   [Setting]

自動(dòng)定位，準(zhǔn)確安裝樣品臺(tái)！迅速找到想觀察的點(diǎn)！

進(jìn)樣和獲取樣品臺(tái)導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。

2.    [Analysis]

充分的自動(dòng)功能，誰都可以拍到高級(jí)的SEM像！

繁瑣的設(shè)定也能對(duì)應(yīng)，EPMA立馬進(jìn)行元素分析！

光學(xué)顯微鏡的自動(dòng)聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動(dòng)功能相結(jié)合，任誰都可以拍到高級(jí)的SEM像。

通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析，初學(xué)者也能操作的【簡(jiǎn)單的EPMA】。

用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定；用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時(shí)間。

SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。

通過WD/ED integration，分析時(shí)間縮短的例子

integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合

3.    [Self Maintenance]

內(nèi)置18種類校正樣品，有效進(jìn)行校正！

配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時(shí)的人為失誤；利用夜間對(duì)儀器進(jìn)行校正，提高了工作效率。

按照【維護(hù)通知功能】，在必要時(shí)期對(duì)儀器進(jìn)行自我維護(hù)，保持設(shè)備優(yōu)良狀態(tài)。