XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件 的膜厚，可選配自動平臺實現 XYZ 軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入* 的 EFP 算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。

XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機多用型光譜儀，應用了*的 EFP 算法和微光聚集技術，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。 被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。